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四探针方电阻率测试仪运用领域
2022-06-16 11:21:36 来源:ROOKO四探针方电阻率测试仪运用领域
四探针电阻率测试仪常用于半导体行业,这种实验方法在国外备受青睐,在我国也成为一种测试趋势。它具有测试快速、简单操作,准确度高的特点,*主要这种方法不用校准,不需要测试人员耗费大量的时间和精力去论证测试的准确性。
四探针方电阻率测试仪运用领域
规格型号 FT-341
1.方块电阻 10^-5~2×10^5Ω/□
2.电阻率 10^-6~2×10^6Ω-cm
3.测试电流 0.1μA.1μA.10μA,100A,1mA,10mA,100mA
4.电流精度 ±0.1%
5.电阻精度 ≤0.3%
6.显示读数 屏液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率
7.测试方式 双电测量
8.电源 输入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗:<30W
9.误差 ≤3%(标准样片结果)
10.选购功能 选购1.pc软件; 选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台;5.标准电阻.
11.测试探头 探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格; 探针材质选购:碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针
12.标准电阻(选购) 规格:1mΩ、10mΩ、100mΩ、1Ω、10Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ
双电组合测试方法:
利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,适用于斜置式四探针对于微区的测试。
适用于覆盖膜;导电高分子膜,高、低温电热膜;隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试
2.硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件,导电薄膜(ITO导电膜玻璃等),金属膜,导电漆膜,蒸发铝膜,PCB铜箔膜,
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